DLS測(cè)量手法及技巧介紹(2024/12/18)
使用ELSZ系列、nanoSAQLA等測(cè)量設(shè)備或?qū)Υ擞信d趣的人。
ZETA電位·粒徑·分子量測(cè)系統(tǒng) ELSZ-2000ZS
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測(cè)試系統(tǒng)·ELSZneo
多樣品納米粒子徑測(cè)試系統(tǒng)·nanoSAQLA
多樣品nano粒子徑測(cè)量系統(tǒng) nanoSAQLA(帶自動(dòng)取樣器 AS50)
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測(cè)系統(tǒng) ELSZ-2000ZS
ZETA電位 · 粒徑測(cè)試系統(tǒng)·ELSZneoSE
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測(cè)試系統(tǒng)·ELSZneo
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測(cè)試系統(tǒng)·ELSZneo
ZETA電位 · 粒徑測(cè)試系統(tǒng)·ELSEneoSE
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量·ELSZ-2000ZS
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測(cè)系統(tǒng) ELSZ-2000Z
高速LED光學(xué)特性?xún)x LE series
光波動(dòng)場(chǎng)三次元顯微鏡
分光配光測(cè)量系統(tǒng) GP series
MCPD series 嵌入式膜厚測(cè)試型
OPTM series 嵌入型
相位差測(cè)量裝置 RETS-100nx New
顯微分光膜厚儀 OPTM series
膜厚量測(cè)儀 FE-300
嵌入式膜厚檢測(cè)儀
線(xiàn)掃描膜厚儀【在線(xiàn)型】
分光干涉式晶圓膜厚儀 SF-3
橢偏儀 FE-5000/5000S
線(xiàn)掃描膜厚儀【離線(xiàn)型】
小角激光散射儀 PP-1000
高速相位差測(cè)量裝置 RE-200
MCPD series 在線(xiàn)評(píng)估測(cè)試系統(tǒng)
線(xiàn)掃描膜厚儀【在線(xiàn)型】
多通道光譜儀 MCPD-9800 / 6800
彩色濾光片、彩色光刻膠測(cè)量裝置 LCF SERIES
Load Port對(duì)應(yīng)膜厚測(cè)量系統(tǒng) GS-300
液晶層間隙量測(cè)設(shè)備 RETS series
嵌入式膜厚檢測(cè)儀
顯微分光膜厚儀 OPTM series
液晶層間隙量測(cè)設(shè)備 RETS series
OPTM series 嵌入型
膜厚測(cè)量系統(tǒng) FE-3700/5700
彩色濾光片、彩色光刻膠測(cè)量裝置 LCF SERIES
用于透過(guò)率/吸光度測(cè)量的多通道光譜儀MCPD series
高靈敏度光譜儀 HS-1000
總光譜光通量測(cè)量系統(tǒng) HM/FM series
紫外分光輻射照度測(cè)量系統(tǒng) New
紫外分光全光譜光通量測(cè)量系統(tǒng)
紫外分光配光測(cè)量系統(tǒng)
分光輻射照度測(cè)量系統(tǒng)
高速LED光學(xué)特性?xún)x LE series
高感度分光輻射亮度計(jì) HS-1000
量子效率測(cè)量系統(tǒng) QE-2100
高靈敏度近紅外量子效率測(cè)量系統(tǒng) QE-5000 New
使用ELSZ系列、nanoSAQLA等測(cè)量設(shè)備或?qū)Υ擞信d趣的人。
使用ELSZ系列、nanoSAQLA等測(cè)量設(shè)備或?qū)Υ擞信d趣的人。
大塚電子的 Zeta 電位測(cè)量系統(tǒng)“ELSZ 系列”不僅可以測(cè)量溶液中膠體粒子的 Zeta 電位,也可以測(cè)量平板狀、薄膜狀樣品的 Zeta 電位。通過(guò)這樣的測(cè)量可以評(píng)價(jià)平板狀樣品的表面改質(zhì)狀態(tài)以及液體中粒子的吸著特性。本次研討會(huì)將介紹其應(yīng)用。
無(wú)法測(cè)試出預(yù)想的結(jié)果,測(cè)試數(shù)據(jù)波動(dòng)這么大?是設(shè)置環(huán)境的不當(dāng)?運(yùn)用方法不對(duì)? 還是測(cè)試條件設(shè)置有誤?如果您也有同樣的困惑,請(qǐng)記得務(wù)必參加我司的網(wǎng)絡(luò)學(xué)習(xí)會(huì)。
包括光學(xué)顯微鏡和電子顯微鏡等。光學(xué)顯微鏡可用于觀(guān)察晶圓表面的形貌、缺陷等,如劃痕、顆粒污染等,操作簡(jiǎn)單、成本較低,但分辨率相對(duì)有限。
包括光學(xué)顯微鏡和電子顯微鏡等。光學(xué)顯微鏡可用于觀(guān)察晶圓表面的形貌、缺陷等,如劃痕、顆粒污染等,操作簡(jiǎn)單、成本較低,但分辨率相對(duì)有限。
納米粒度儀主要是用于測(cè)量顆粒的粒徑及粒度分布等參數(shù),通常不能直接用于分子量測(cè)試。
Zeta 電位(ζ- 電位)是指剪切面(shear plane)的電位,是表征膠體分散系穩(wěn)定性的重要指標(biāo) 。分散粒子表面帶有電荷會(huì)吸引周?chē)姆刺?hào)離子,這些反號(hào)離子在兩相界面呈擴(kuò)散狀態(tài)分布形成擴(kuò)散雙電層,根據(jù) stern 雙電層理論可將雙電層分為兩部分:stern 層和擴(kuò)散層 。
我們公司大塚電子(蘇州)為使用 “光”技術(shù)開(kāi)發(fā)的測(cè)量?jī)x器、分析儀器提供從銷(xiāo)售到售后的全面服務(wù)支持。 就像母公司大塚制藥集團(tuán)旗下的大塚電子(日本)一樣,大塚電子(蘇州)也將“多樣性”,“創(chuàng)新性”和“全球化”作為基本方針,通過(guò)創(chuàng)新和具有創(chuàng)造性的產(chǎn)品和服務(wù),為全世界人民的生活做出貢獻(xiàn)。
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